Nicomp® 3000
纳米激光粒度仪

动态光散射仪

具有50+年历史
专为复杂体系提供高精度粒度解析方案
助您探索纳米宇宙的精微奥秘！

0.9°步进型多角度（MADLS）真正的多角度模块

不同粒径的纳米粒子，尤其是粒径远小于激光波长的粒子在传统的动态光散射理论下，力度分布（PSD）会失去一些细节。Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列开创性地配备了可以从14.4°-180°范围内，步长0.9°的多角度模块，对特殊样品（如极小粒径）可以选用合适的角度进行检测，显著提高对复杂体系的分辨力。

复用型直插靶电级，减少耗材成本

Zeta电位检测模块，采用双列直插式靶电极，清洁方便，易于清洗，可以反复使用。既保护了环境，也大大减少了使用一次性可丢弃的电极模块的成本。

专有的Nicomp®多峰分布，可分辨1:2的多组分

Entegris（PSS）Nicomp® 3000系列搭载了Nicomp®多峰算法，可以有效区分不同粒径（1：2的不同组分），为复杂体系和多组分体系提供了强有力的生产工具。

（下图为同一复杂体系样品分别在高斯算法和Nicomp®算法所呈现的结果）

高斯粒径分布图

Nicomp®多峰粒径分布图

自动稀释模块和自动进样模块，减少试错成本和人工误差

Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列在动态光散射法上应用了自动稀释模块和自动进样模块，既可以有效避免人工稀释所带来的试错成本和误差，更可以实现检测的自动化操作，为大批量的检测提供了良好的解决方案。

产品介绍
PRODUCT INTRODUCTION
   

Nicomp® Z3000纳米粒度及ZETA电位分析仪

检测范围

粒径检测：0.3nm-10.0μm

Zeta电位：-500mV-+500mV

应用领域

MINI DLS在线纳米激光粒度仪/在线动态光散射仪

无需校准
*hydrodynamic radius，流体动力学半径

应用领域

均质机/研磨机下游的粒度控制
脂质体和乳剂等纳米制剂产品的生产监控
CMP浆料（研磨液）的磨损监控
纳米先进材料生产过程中粒度监控

仪器原理
PRINCIPLE
   

动态光散射方法(Dynamic Light Scattering)原理示意图

Zeta电位工作原理示意图

Zeta电位用于测试颗粒之间排斥力 ，是判断体系稳定性的测量手段。

布朗运动的一个重要特点是：小粒子运动快速，大颗粒运动缓慢。由于粒子在不停地运动，散射光斑也将出现移动。由于粒子四处运动，散射光的相位叠加，将引起光亮区域和黑暗区域呈光强方式增加和减少或以另一种方式表达，光强也成波动形式。即：粒子的布朗运动导致光强的波动。

通过拉普拉斯逆转换，将光信号转换成指数光谱的形式进行数据处理，将杂乱无章的波动曲线转换成有规则的自相关C(t)函数曲线。

通过自相关C(t)函数曲线得到衰变常数τ，通过下面公示得到扩散系数D；

1/τ= 2DK2 （K是散射光波矢量，是一个常数）

最后在通过 Stokes-Einstein 方程，得到粒径大小R:

公式中：
K = 玻尔兹曼常数；
T = 绝对温度；
h = 溶液的剪切粘度；
R = 粒子大小的半径；
D = 扩散系数；

Nicomp® 3000系列设备检测原理图

Nicomp® 3000系列纳米激光粒度仪采用动态光散射原理检测分析样品的粒度分布。基于多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering，ELS）检测ZETA电位。其主要用于检测纳米级别及微米级别的体系，粒径检测范围0.3nm-10μm，ZETA电位检测范围为±500mV。动态光散射方法（DLS）从传统的光散射理论中分离，关注瑞利散射区的小颗粒，主要用于检测纳米级别的分散体系。动态光散射是通过光强值的波动得到自相关函数，从而获得衰减时间常量τ，进而计算获得粒子的扩散速度D（Diffusion Coefficient，扩散系数），代入Stokes-Einstein方程式，就可以计算得到颗粒的半径。

Zeta电势电位测定：Nicomp® Z3000结合了动态光散射技术（DLS）和电泳光散射法（ELS）,实现了同机测试亚微米粒子分布和ZETA电势电位。ELS是将电泳和光散射结合起来的一种新型光散射，它的光散射理论基础是准弹性碰撞理论，在实验时通过在样品槽中外加一个外电场，带电粒子即会以固定速度向与带电粒子电性相反的电极方向移动，与之相应的动态光散射光谱产生多普勒漂移，这一漂移正比于带电粒子的移动速度，因此由实验测得的谱线的漂移，就可以求得带电粒子的电泳速度，从而得到电位值。通过测试颗粒之间的排斥力，判断体系稳定性的测量手段之一。

相位分析法（PALS）:用相位（Phase）变化的分析取代原先频谱的漂移，不仅使Zeta电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对有机相体系同样能提供Zeta电位的精确分析。

产品优势
PRODUCT HIGHLIGHT
   

0.9°步进型多角度（MADLS）真正的多角度模块

不同粒径的纳米粒子，尤其是粒径远小于激光波长的粒子在传统的动态光散射理论下，力度分布（PSD）会失去一些细节。Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列开创性地配备了可以从14.4°-180°范围内，步长0.9°的多角度模块，对特殊样品（如极小粒径）可以选用合适的角度进行检测，显著提高对复杂体系的分辨力。

专有的Nicomp®多峰分布，可分辨1:2的多组分

Entegris（PSS）Nicomp® 3000系列搭载了Nicomp®多峰算法，可以有效区分不同粒径（1：2的不同组分），为复杂体系和多组分体系提供了强有力的生产工具。
（下图为同一复杂体系样品分别在高斯算法和Nicomp®算法所呈现的结果）

高斯粒径分布图

Nicomp®多峰粒径分布图

超高分辨率的纳米检测精度

通过蛋白质样品的测试，Nicomp® 纳米激光粒度仪对于小于10nm的粒子，依然显示超高的分辨率和准确度。Nicomp® 纳米激光粒度仪的这种超高分辨率可以有效帮助研究人员更准确更真实的检测出样品粒度分布。

如下图，蛋白质单聚体的粒径大小为1.7nm

蛋白质双聚体的理论粒径大小为1.7nm的两倍3.4nm。Nicomp®  3000系列测得的结果为2.9nm左右。这个数值符合实际粒径大小。

针对更复杂的四聚体，其理论粒径为单聚体的4倍6.8nm。Nicomp® 3000系列测得的结果为5.7nm。这个数值符合实际粒径大小。

将上述3个数据叠加，我们可以清晰地看到在10nm以下仍然能得到粒径相差很小的3个峰，显示Nicomp® 3000系列仪器有超高的分辨率和灵敏度。

自动稀释模块和自动进样模块，减少试错成本和人工误差

Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列在动态光散射法上应用了自动稀释模块和自动进样模块，既可以有效避免人工稀释所带来的试错成本和误差，更可以实现检测的自动化操作，为大批量的检测提供了良好的解决方案。

Multiple sample trays available

3×7 samples-30mm tube（50mL）
4×10 samples-20mm tube（20mL）
5×12 samples-16mm tube（14mL）
6×15 samples-13mm tube（7mL）

复用型直插靶电级，减少耗材成本

Zeta电位检测模块，采用双列直插式靶电极，清洁方便，易于清洗，可以反复使用。既保护了环境，也大大减少了使用一次性可丢弃的电极模块的成本。

PMT&APD双检测器

Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列可以装配高灵敏度的光电倍增管检测器以及雪崩二极管检测器，相比较传统的光电倍增管有7-10倍放大增益效果。

软件工作站
SOFTWARE WORKSTATION
   

全面的权限管理

灵活设置用户管理权限，增加安全性。可设置密码复杂度，自动登出时间，密码修改时限，满足CSV计算机系统验证。

1.用户管理
2.允许编辑测样方法
3.数据库管理
4.链接驱动
4.允许用户用仪器测量样品
5.对主机中固件更新（工程师权限）
6.密码权限设置
7.可看、输出、更改数据自动备份位置
8.更改重新计算测试数据
9.导入曲线
10.曲线校准（不对用户开放）
11.增加减少报告模板
12.允许打印或导出报告
13.删除测样数据（仅软件界面看不到，数据库数据依然存在，并可还原）
14. 删除测样数据
15. 删除报告
16. 删除文件

完整的审计追踪

具备详细的审计追踪记录，支持日志导出打印，记录用户登录期间所有操作，可根据操作类型、时间、项目等检索。

多种数据备份方式

数据备份支持手动、自动备份到文件路径。备份内容包含完整数据内容、操作方法、审计追踪记录日志等。

软件测试界面

简洁明了，支持不同权重，不同分析模型实时切换，可快速查询不同指标。

仪器参数
INSTRUMENT SPECIFICATION