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TEJDCS2851D介电常数测试仪制造商

TEJDCS2851D介电常数测试仪

仪器介绍

TEJDCS2851D介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。

TEJDCS2851D介电常数及介质损耗测试仪是一种基于串联谐振原理工作的高频阻抗测量仪器,对电感器,电容器,绝缘材料等进行高频有效电感,Q值,电容值和Σ,tgδ测量

1 特点：
* 本公司创新的自动Q值读取技术，使测Q精度和速度大大提高。　
* 低至20nH残余电感，保证高频时直读Q值的误差较小。　
* 特制LCD屏菜单式显示多参数，Q值，测试频率，调谐状态等。　
* Q值量程自动/手动量程控制。　
* 数字化Q值予置，能提高批量测试的可靠性和速度。　
* VCO调节测试频率，其平滑的连续频率变化，能便捷的进行Δf测量Q值。

2 主要技术性能：　
2.1 工作频率范围：
50kHz～50MHz,四位有效数显，分六个波段。　

2.2 Q值测量范围：
10～1000，分10～100，30～300，100～1000三档。　

2.3 Q值固有误差：
±5%±3%满刻度值。　

2.4 有效电感测量范围：
0.1μH～100mH。　

2.5 电感测量误差：
≤5%±0.02μH。　

2.6 调谐电容特性　
2.6.1 可调电容范围：
40pf~500pf。　
2.6.2 精确度：
±1%或者1PF。　
2.6.3 微调电容:
±3pf可调，±0.2pf分辨率。　
2.6.4 残余电感值：
约20nH。　

2.7 Q预置功能：
预置范围：Q：10~1000均可。被测件达到预置值后有“GO"显示和蜂鸣声提示。不合格件则显示“NO GO"。　

2.8 外形尺寸/重量：
415×180×170（mm）,7kg。

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