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“的SEM更为紧凑”
宽幅仅为45 cm的紧凑型的设计,仍具备4.0 nm的图像分辨率。
全新开发的用户界面和电子光学系统让您深切体验其高性能。
FlexSEM 1000 II,凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器,可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面,具有亮度和对焦自动调节功能,可以在短时间内进行各种观察。此外,还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”,这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点,实现最直观的视野移动。
*1设置到桌面上时,请将机体与电源盒分离
*2选项
小型高性能色谱柱
尺寸虽小,却具备同类产品中的分辨率。
金颗粒沉积
加速电压:20 kV
倍率:60,000倍
信号:SE
分辨率:4 nm
金颗粒沉积
加速电压:20 kV
倍率:50,000倍
信号:BSE
分辨率:5 nm
高画质
配备可优化放射电流的功能,以便在较低的加速电压下也能获得足够的亮度,而获得噪点小且清晰的图像。
储氢合金
加速电压:5 kV
倍率:30,000倍
信号:SE、无金属涂层
Al-Ni复合材料
加速电压:3 kV
倍率:10,000倍
信号:BSE、无金属涂层
宽幅仅为45厘米,紧凑型设计,地减小占用空间。机体仅支持AC100 V 3P电源插座。此外,机体和电源盒可以分离,从而大幅度提升诸如桌面设置等的布局灵活性。
*PC、桌子、监控器由客户准备
*3机体和电源盒连接时候
*4使用标准支架时
FlexSEM 1000 II采用新型偏压系统,可在低加速电压下获得高放射电流。从而,在低加速电压下也能实现同类产品中的图像清晰度(S/N)。
利用SEM上4分割背散射电子检测器所获得的信号,可计算4个方向的表面形状,从而无需进行样品倾斜和视野对位,即可构建三维模型。
Hitachi map 3D支持多个国家的语言,具备用于调节样品位置的各种校正功能、以及可追溯测量过程的测量系统、符合ISO标准的表面粗糙度(面粗糙度、线粗糙度)的测定、此外还包括表面积、体积等其他测量功能以及报告输出等功能。
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